作者：米勒之声
随着心血管植入型电子器械（CIED)的广泛应用，外科手术或其他医疗操作中遇到已经植入CIED的患者越来越多，该类患者的围术期处理变得越来越重要。然而，CIED的围术期管理是外科医师、麻醉医师甚至普通心血管内科医师的知识盲区，往往导致处理不到位或过于积极。
CIED围术期相关问题
电磁干扰(EMI)可能引起起搏器和ICD功能障碍，是CIED患者术中遇到的最主要问题。围术期的CIED患者常暴露于各种EMI中，可引起一系列问题，如起搏器抑制、不恰当的噪声跟踪、电极-组织接触面损伤、脉冲发生器损坏和电子装置重置等。
1．外科电刀干扰
最常见的EMI来源是外科电刀的应用(表1)。外科电刀的电流特征可分为单极和双极两种。双极电刀手术(如眼科和微创手术)对CIED产生的干扰和不良影响极小。单极电刀则是利用一个类似"笔"形的电极对手术部位进行操作，而电流则通过患者身体回到患者体表的一片大面积的"无关电极"贴片上。当电流通过CIED及其附件时就可能产生对CIED的干扰。因此，单极电刀是手术室对CIED产生干扰的最常见来源。这些干扰的形式包括抑制、非必要性抗心动过速治疗，甚至更严重的情况如脉冲发生器的重置等。
2．其他来源的EMI及其处理：
除了外科电刀以外的EMI来源包括：
①体外心脏电复律：应将电极贴片贴于前后位以减少EMI干扰； ②射频消融术：应避免消融导管和CIED及其附件的直接接触； ③放射治疗：应尽量减少剂量等。
术前访视注意事项
术前评估对CIED患者至关重要，而其中最重要的就是CIED管理团队和手术团队的密切沟通。
1、对心血管植入型电子器械(CIED)患者术前建议的主要原则
2、术前需提供给手术团队的心血管植入型电子器械(CIED)重要信息
3、术前需要提供给心血管植入型电子器械(CIED)管理团队的重要信息
术中监护
不管手术类型和麻醉方式如何，有EMI风险CIED患者术中均需要心电监护。由于心电监护设备和CIED之间有相互干扰的可能，因此需要同时使用多种方法测定脉搏，包括体积描记法、脉氧监护和有创动脉压检测。"共识"还建议，室性心律失常高危的患者术中须常规使用除颤贴片、手术室应有成熟抢救措施、术中外科电刀设施应很好的接地(包括无关贴片的贴放)、深静脉留置导管应避免和CIED尤其是ICD电极接触。
术后评估
术后评估的目的是确保术后CIED的功能已恢复术前的设置，同时其起搏或心动过速检测及治疗功能未在术中受损。因此，术后再次进行CIED的程控也是重要的。